實驗室裡,其他幾個區的技術隊長麵麵相覷,眼神中的敬畏又加深了一層。
如果說剛才介紹高階儀器是展現“廣度”,那現在解釋偏光顯微鏡,就是展現“深度”。
這個年輕人,對物證鑒定的知識體係,掌握得太紮實了!
“我也有個問題!”
一個略顯急促的聲音響起,是密丹區的技術隊長。
“還是纖維,假如,你在顯微鏡下發現,纖維上附著著一個非常非常小的顆粒。”
“可能也就針尖那麼大,甚至更小。”
“你懷疑它可能跟案情有關,但它太小了,光學顯微鏡下隻能看到一個點。”
“你要怎麼確定它是什麼?”
這個問題更加具體,也更加刁鑽。
這是微量物證中的微量物證,考驗的是處理極限痕跡的能力。
劉占傑緊張地攥了攥拳頭,心裡默默給方思恆加油。
方思恆幾乎沒有思考,立刻回答道:“這種情況,首選是掃描電子顯微鏡,也就是SEM。”
“為什麼是SEM?”密丹區隊長追問道。
“原因有三。”方思恆伸出三根手指。
“第一,超高解析度。掃描電鏡的放大倍數可以輕易達到幾萬甚至幾十萬倍。”
“遠遠超過光學顯微鏡的極限。那個針尖大小的顆粒。”
“在SEM下可以被放大到足夠我們看清其表麵形貌的程度。”
“它是球狀的、片狀的、還是不規則晶體,一目瞭然。”
“第二,優秀的景深。用過高倍光學顯微鏡的老師都知道,倍數越高,景深就越淺。”
“視野裡隻有薄薄的一層是清晰的,對於有立體結構的顆粒,很難看清全貌。”
“而SEM的景深非常大,即使在高倍率下。”
“也能獲得清晰的、富有立體感的影象,這對我們判斷顆粒的形態至關重要。”
“第三,也是最關鍵的一點,能譜分析。”
方思恆加重了語氣。
“幾乎所有的現代掃描電鏡,都會配備一個叫‘X射線能譜儀’的附件。”
“也就是我們常說的EDS或者EDX。”
“在用電子束觀察顆粒形貌的同時,這束電子也會激發顆粒中的原子。”
“使其發出具有元素特徵的X射線。EDS就是用來探測這些X射線的。”
“通過分析能譜,我們可以在幾分鐘內,無損地分析出這個微小顆粒主要由哪些元素組成。”
“比如,譜圖上顯示有鉛、鋇、銻,那我們就要高度懷疑這是射擊殘留物。”
“如果顯示是鐵和鉻,那可能是不鏽鋼的碎屑。”
“如果顯示是矽、鋁、氧,那可能是泥土或者玻璃的微粒。”
“形貌加上元素成分,兩者結合,往往就能對這個微小顆粒的種類和來源。”
“做出一個非常準確的初步判斷。這對於指導後續的偵查方向,價值無可估量。”
話音落下,密丹區的技術隊長張了張嘴,最後用力一拍大腿。
“沒錯!就是這個理兒!SEM加EDS,絕了!”
“我之前辦個案子就遇到過,搞了半天,最後還是送到市局用電鏡看的,跟你說的一模一樣!”
他看向方思恆的眼神,已經像是看自家兄弟一樣,充滿了認同和欣賞。
這一下,再也沒有人把這當成“考驗”了。
溫馨提示: 搜書名找不到, 可以試試搜作者哦, 也許隻是改名了!